仪器名称 |
三离子束切割仪 |
国别及厂家 |
奥地利 徕卡公司 |
投入日期 |
2017年1月 |
规格型号 |
Leica EM TIC 3X |
仪器负责人 |
刘金英、燕丹 |
联系电话 |
刘金英15659142813、燕丹18850737800 |
安放地址 |
福州大学科技园1号楼北106 |
性能参数 |
三把离子枪,离子束能量1~10keV,可选择任意离子枪; 可进行离子束切割或刻蚀,切割速率150μm/h(Si@10kV,50μm切割高度),可获得的有效切割截面面积4×1mm; 离子束处理过程中样品位置固定,无需偏转运动,无投影效应,热传导性好; 样品处理过程可通过体视镜实时监控;真空泵解耦合设计,无震动传导; 触摸屏操作面板,直观、简易操作,通过USB即可进行参数和程序的上传或下载。 |
主要应用 |
Leica EM TIC 3X三离子束切割仪几乎适用于任何材质的样品。 特别适合于软/硬复合、带有孔缝结构、脆性及非均质样品等高难度样品; 可获得样品的无损伤平面或截面,从而进行扫描电子显微镜,微区分析(EDS,WDS,Auger,EBSD)以及原子力显微镜或扫描探针显微镜检测。Leica EM TIC 3X通过离子枪激发获得的离子束,以垂直于样品的侧面纵向轰击样品,可获得高质量无应力“切割”截面,或以一角度轰击样品表面,获得所需要的干净,平整的观察表面,便于扫描电镜分析和观察。 该处理方法适用于多层膜材料、软硬复合材料等高难度样品的制备;仪器操作简单。 |
样品要求 |
截面切割样品尺寸,对于不同的样品台,≤10mm×8mm×7mm 或 ≤25mm×25mm×5mm; 平面抛光样品直径≤20mm,厚度≤12mm。 |
面向学科 |
可面向材料科学及其相关领域。 |
其他说明 |
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