国别及厂家

美国，FEI

投入日期

2005年12月

规格型号

Tecnai G2 F20

仪器负责人

张新奇、燕丹

联系电话

13696897581

安放地址

科技园阳光楼南110室

性能参数

1、 加速电压：200 kV； 

2、 点分辨率：0.24 nm；

3、 物镜球差系数Cs：1.2 mm

4、 物镜色差系数Cc：1.2 mm

5、 STEM分辨率：0.2 nm；

6、EDS分辨率：优于136 eV；

主要应用

1、形貌像分析； 

2、电子衍射图像分析； 

3、HRTEM高分辨像； 

4、STEM和HAADF像；

5、微区EDS能谱分析。

样品要求

低熔点的材料如锡、铅等会产生相变和蒸镀效应，及样品中含有机物、高分子等成分在电子束照射下会分解或释放出气体的会造成镜筒污染，请勿预约电镜测试。

1、粉末和液体样品

样品无磁性，放射性，挥发性，毒性等；粉末样品要干燥，粉末粒径小于1 μm，粉末量大于10 mg。

2、块体样品

无磁性，放射性，挥发性，毒性等，整体直径不大于3 mm，

经过离子减薄，电解双喷或FIB处理，薄区厚度小于100 nm。

面向学科

纳米材料、金属材料、半导体、高分子材料、陶瓷、生物学、医学、化学、物理学、地质学等领域

其他说明