国别及厂家

德国，Zeiss

投入日期

2024.05

规格型号

Xradia 510 Versa

仪器负责人

陈志鑫 汪婷

联系电话

13871127870

安放地址

阳光楼北105

性能参数

1.加速电压30~160kV；

2.空间分辨率700 nm；体素大小低至 70 纳米

3.原位样品台：变温 -20℃~160℃，拉力0~5 KN。

主要应用

1.可用于各类样品内部结构的无损三维成像，及在原位条件下（变温、拉伸、压缩）的三维结构表征分析。

2.可实现样品内部亚微米或微米级的无损原位三维结构成像，如复合材料、高分子聚合物、涂层、电子元件、化石文物、岩石、动植物组织等各种材料进行3D成像与分析。

样品要求

1.X射线显微镜可无损观测固体、粉末或乳液等样品的内部三维结构，最大样品尺寸为300 mm；

2.对于动物组织样品，请将待测组织在4℃用戊二醛或多聚甲醛固定，以免内部结构分解变形；

3.对于植物组织样品，待确定测试时间后再送样，以免植物组织脱水变形，影响测试结果

面向学科

适用于材料科学、生命科学、航空航天、考古、地球科学、电子半导体等领域。

其他说明

整个铝-硅体模体中的不同物相的分割渲染