国别及厂家

荷兰 帕纳科公司

投入日期

2017.03

规格型号

X’pert 3

仪器负责人

黄清明、冯蕊

联系电话

0591-22867123

安放地址

国家大学科技园1#-北108

性能参数

光源：陶瓷Cu靶光管、波长0.154056nm, 测试角仪：-110°≤2θ≤162°、最小可控步径0.0001°、角度重现性+/-0.0001°、整体重现性±0.003°、分辨率FWHM 0.028°，一维探测器： 256个阵列、静态扫描范围6.5°、计数 99%线性范围1×10^10cps、最小背景≤1cps，配置Hybrid单色平行光镜、平行光准直器、多功能样品台、毛细管旋转样品台

主要应用

1.物相定性、半定量、定量分析；2. 物相晶胞参数测定与结构精修；3.晶粒尺寸与晶格畸变分析；4. 薄膜衍射与结构分析；5. 薄膜厚度与界面粗糙度分析； 6. 单晶或外延膜摇摆曲线测试，7.2theta、omega扫描分析。

样品要求

样品无毒，粉末样品粒径≤50μm，块状样品要求测试面清洁平整、厚度≤5mm，直径≤2cm（1cm×cm为佳）, 若样品中含有Fe、Co、Ni等荧光物质请明确注明，需数据分析的样品请注明样品中所含元素组成，不稳定需特殊储存样品请特别说明。

面向学科

化学、化工、材料、生物工程、环境工程、光电物理、土木、机械等

其他说明