国别及厂家

法国Xenocs公司

投入日期

2025年

规格型号

Xeuss 3.0 UHR

仪器负责人

冯蕊 黄清明

联系电话

 0591-22867823

安放地址

福州大学国家大学科技园1号楼北218

性能参数

1、X射线源： 

        （1）铜靶的靶上焦斑（直径）：≤30μm（标准：DIN EN 12543-5）； 

        （2）光源全自动内循环水冷散热控温精度：0.1℃； 

 2、无散射狭缝准直系统： 

        （1）无散射狭缝组：≤2组； 

        （2）光斑大小：0.15   ~ 1.5mm； 

        （3）光斑实时连续改变精度：≤0.001 mm； 

        （4）样品处最大X射线的通量：≥6×10⁸   phs/s； 

        （5）系统动态量程：≥ 2×10¹⁰； 

        （6）光路真空度：≤0.1mbar； 

3、样品台：通用型样品台、掠入射样品台、粉末/凝胶样品台、原位变温样品台（-150~350 ℃）、原位变温拉伸样品台(0~200 N)、原位低噪音流动样品池、毛细管流动样品池等。

4、小光斑X射线光束模块：样品处光斑尺寸≤150nm，可测粒子尺寸≤50nm，可进行小角和广角测量

5、二维小角最小可测散射矢量q_min：≤0.006   nm^-1。样品固定不动，单个二维探测器可采集的广角散射矢量 q_max：≥49   nm^-1

主要应用

在透射或掠入射模式下进行小角/广角X射线散射，从而获得在纳米和介观尺度上材料的结构信息，如粒子形状和尺寸分布、分子量、孔径、结晶度、物相鉴定、取向分析、表面结构与散射图案、比面积分析，以及动态现场原位研究（温度、湿度、拉伸力、剪切应力）等。

样品要求

粉末，薄膜，液体样品均可

（1）样品不得包含水、酸等易挥发、易分解或具有腐蚀性的成分； 

（2）多孔或易潮解的样品需提前真空干燥处理；

（3）样品不得具有剧毒或放射性等危害测试人员与设备的成分。

面向学科

材料物理与化学、高分子材料 、环境化学、纳米科学等

其他说明

无