仪器名称 |
台式X射线吸收精细结构谱仪 |
国别及厂家 |
美国easyXAFS公司 |
投入日期 |
2025 |
规格型号 |
easyXAFS 300+ |
仪器负责人 |
黄清明、冯蕊 |
联系电话 |
0591-22867123 |
安放地址 |
国家大学科技园1#-北218 |
性能参数 |
XAFS模式:能量范围5-20.5keV,X射线单色器布拉格角55°-85°,能量分辨率≤1.5 eV (7-9 keV),重复性能量漂移<50 meV,最小步长≤0.1 eV,检测器有效计数率≥200,000 photons/sec (7-9 keV); XES模式:最大加速电压不低于25kV, 最大电流不低于3mA,能量分辨率:≤1.5 eV (7-9 keV),核心-空穴生成速率≥ 10^11/s (7-9 keV),重复性能量尺度漂移<25 meV,检测器分辨率≤136eV;配置15块Johann型球面分光弯晶,自动样品轮,透射原位电化学池、液层厚度调节范围0<d<3mm,高低温电磁原位池、温度-185℃—600℃,控温精度±1℃,光热原位反应动力学池、温度RT-100℃,常压、控温精度±1℃。 |
主要应用 |
主要用于元素价态、键共价性能及配位结构分析,对于揭示纳米材料、非晶材料、掺杂材料的构效关系具有重要意义。 |
样品要求 |
样品无毒,粉末样品粒径≤50μm,样品量不少于0.5g,薄膜厚度满足透射测试要求,不稳定需特殊储存样品请特别说明。 |
面向学科 |
化学、化工、材料、生物工程、环境工程、光电物理等 |
其他说明 |
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