国别及厂家

美国，Thermofisher Scientific

投入日期

2024年

规格型号

Talos F200X G2

仪器负责人

张新奇、汪婷

联系电话

13696897581

安放地址

科技园阳光楼南113

性能参数

加速电压：200 KV；

电子枪：肖特基热场发射超亮电子枪；

TEM点分辨率：0.23 nm；

TEM线分辨率：0.10 nm；

TEM信息分辨率：0.12 nm；

STEM分辨率：0.16 nm；

样品倾斜角度X/Y：±25°；

能谱能量分辨率：优于136 eV。

主要应用

1、可对金属、陶瓷、半导体、塑料、纳米颗粒等各种材料进行形貌观察和超微结构分析；

2、可对样品进行选区电子衍射和晶体结构分析；

3、结合能谱仪可对样品进行点、面元素分布分析；

4、利用三维样品杆可以实现TEM、STEM和EDS三维重构。

样品要求

1、透射电镜不能直接观察所有磁性样品，请提前咨询并做相应的样品前处理，否则不予以观察；

2、透射电镜能够观察厚度200 nm以下的样品；

3、对于粉末和液体样品，要求样品均匀分散在支持膜上并且干燥，能够区分正反面；

4、对于块体样品，要求样品大小为直径3 mm的圆，厚度小于200 nm。

面向学科

纳米材料、金属、半导体材料、高分子材料、陶瓷、生物学、医学、化学、物理学、地质学等领域

其他说明

1、Talos F200X G2透射电镜的TEM信息分辨率可以达到0.12 nm，最高放大倍数为1.05M倍。

2、仪器安装了多探头STEM系统，具备高角环形暗场探头（HAADF）、明场探头（BF）、环形暗场探头（ADF），STEM分辨率可以达到0.16 nm。

3、仪器配备了4个SDD探头的超级能谱探测器，可以高效率探测到微量元素，以及材料成分在一维，二维，甚至三维空间的分布信息。