各位用户：

测试中心新购置的台式X射线吸收精细结构谱仪已完成安装调试。2025月1月1日-1月16日面向全校试运行，试运行期间对校内每个课题组1个样预约免收测试费，超出部分正常收费，欢迎广大校内外师生、用户了解、预约、使用。（备注：试运行期间不进行原位测试）

1. 仪器介绍

仪器品牌：美国Quantum Design公司

仪器型号：easyXAFS300+

仪器简介：

easyXAFS300+ 是一款新一代全自动光路校准的高通量、高能量分辨率台式 X 射线吸收精细结构谱仪。该仪器配备15块单色器晶体，以及原位电化学、高低温电磁和光热原位样品池，支持 XAFS 和 XES 模式的测试。在透射模式下，easyXAFS300+ 能够测量样品中指定元素的 X 射线吸收谱和发射谱，从而获取元素的价态、配位结构和配位数等局部微观结构信息。

X射线吸收精细结构谱仪（XAFS/XES）是一种用于研究材料局部结构和电子状态的非破坏性技术。该技术利用 X 射线与物质的相互作用，获取指定元素的近边吸收谱（XANES）、扩展远边吸收谱（EXAFS）和特定能带发射谱，分别用于分析元素的化学状态和价态、原子周围局部环境的配位结构，以及甄别测量元素的配位原子类别，是表征晶态和非晶态材料微观配位结构的重要手段。XAFS/XES主要应用于催化剂 、合金、陶瓷、环境污染物、各类晶态和非晶态材料及生物样品内金属离子的价态、配位结构及电子状态分析，以及材料局部结构在热场、光场、电场和磁场变化下的局部结构动态演化过程研究等。

主要技术指标：

（1）X射线源： 配置Ag靶和Mo靶用于不同能量的XAFS测试，配置W和Pd靶用于不同能量的XES测试

（2）单色器晶体（半径）：≥0.5m，能量分辨率≤1.5 eV

（3）探测器有效计数率≥200,000 photons/sec (7-9 keV)，dead time<30%

（4）XAFS模式重复性：＜50 meV

（5）XES模式能量分辨率：≤1.5 eV (7-9 keV)

（6）XES核心-空穴生成速率≥ 10^11/s

（7）XES模式重复性：＜25 meV

（8）X射线辐射瞬时剂量率小于0.3 uSv/h

2. 送样要求：

样品类型：固体粉末，颗粒度大于200目，块体薄片先到实验室评估

3. 预约方式：

预约方式：http://tims.fzu.edu.cn（网上预约）

安放地点：福州大学国家大学科技园阳光科技大厦北218

联系人：黄老师13559113878，冯老师 15396061934