各位用户：

测试中心新购置的场发射透射电子显微镜已完成安装调试，2024年12月31日-2025年1月10日面向全校试运行，试运行期间对校内每个课题组1个样以内预约免收测试费，超出部分正常收费，欢迎广大校内外师生、用户了解、预约、使用。

1、仪器介绍

仪器品牌：美国Thermofisher Scientific

仪器型号：Talos F200X G2

仪器简介：

场发射透射电子显微镜系统（200 KV）主要用于对各种材料的微观结构表征分析，如金属、矿物、半导体、陶瓷、生物、高分子、复合材料、催化剂等进行微观形貌、晶体结构、晶体缺陷、晶粒取向及元素成分分析，并可借助多功能样品杆对电子束敏感材料进行形貌观察,结构表征及三维重构。

主要性能指标：

加速电压：200 KV；

电子枪：肖特基热场发射超亮电子枪；

TEM点分辨率：0.23 nm；

TEM线分辨率：0.10 nm；

TEM信息分辨率：0.12 nm；

TEM放大倍率范围：25x-1.05Mx；

电子衍射最大会聚角 (CBED) ：100 mrad；

相机长度：14 - 5700 mm；

STEM探头：高角环形暗场探头（HAADF），明场/暗场探头(BF/DF)，能够同时采集和显示四幅来自 STEM放大倍数范围：350x - 300Mx不同角度的电子信号成像；

STEM分辨率：0.16 nm；

配备实时的积分相位衬度像(iDPC)成像功能，可在同一幅STEM图像中同时获取轻重元素的清晰衬度；支持在极低束流下对MOF等电子束敏感材料进行低损伤高衬度成像；

通过使用不同的样品杆，可实现冷冻传输和高倾转三维重构功能；

四个30 mm²对称式电制冷能谱探头；

能谱能量分辨率：优于136 eV；

元素分析范围：Be(4) – Cm(96)；

全自动点、线、面分析。

2、样品要求：

1、透射电镜不能直接观察所有磁性样品，请提前咨询并做相应的样品前处理，否则不予以观察；

2、透射电镜能够观察厚度200 nm以下的样品；

3、对于粉末和液体样品，要求样品均匀分散在支持膜上并且干燥，能够区分正反面；

4、对于块体样品，要求样品大小为直径3 mm的圆，厚度小于200 nm；

5、如果需要使用双倾杆，冷冻样品杆或者三维重构样品杆，以及使用iDPC和三维重构功能请提前咨询。

3、预约方式：

预约方式：http://tims.fzu.edu.cn（网上预约）

安放地点：福州大学国家大学科技园阳光科技大厦南113

联系人：张老师 13696897581