生产厂家

美国 FEI公司

投入日期

2019年

管理人员

陈志鑫  汪婷  郑春明  

电   话

0591-22863872

安放地址

福州大学国家大学科技园阳光科技大厦南109

性能参数

二次电子分辨率：0.6 nm@15kV; 0.6nm@2kV; 0.7nm@1kV;1.0nm@0.5kV; 1.2nm@0.2kV
放大倍率：40 ～ 900,000
加速电压：0.2kV ～ 30 kV
着陆电压：20V ~ 30kV
电子束流：0.8pA ～ 100nA

仪器主要用途

纳米材料形貌像分析以及材料微区域EDS能谱分析，其广泛应用于材料、化学化工、机械、医学等领域。

送样要求

1.送检样品必须为干燥固体，表面清洁；
2.应有一定的物理、化学稳定性，在真空中及高能电子束轰击下不会挥发或变形；
3.无毒、无放射性、无腐蚀性、无磁性；
4.尺寸不大于50*50*15mm。

面向学科

材料、物理、化学、生物、化工、能源、机械、信电、光仪等