仪器型号 | Verios G4 UC |
生产厂家 | 美国 FEI公司 |
投入日期 | 2019年 |
管理人员 | 陈志鑫 汪婷 郑春明 |
电 话 | 0591-22863872 |
安放地址 | 福州大学国家大学科技园阳光科技大厦南109 |
性能参数 | 二次电子分辨率:0.6 nm@15kV; 0.6nm@2kV; 0.7nm@1kV;1.0nm@0.5kV; 1.2nm@0.2kV |
仪器主要用途 | 纳米材料形貌像分析以及材料微区域EDS能谱分析,其广泛应用于材料、化学化工、机械、医学等领域。 |
送样要求 | 1.送检样品必须为干燥固体,表面清洁; |
面向学科 | 材料、物理、化学、生物、化工、能源、机械、信电、光仪等 |
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