
仪器型号  | Helios G4 CX  | 
生产厂家  | 美国 FEI公司  | 
投入日期  | 2019年  | 
管理人员  | |
电 话  | 0591-22863872  | 
安放地址  | 福州大学国家大学科技园阳光科技大厦南110  | 
性能参数  | 电子束二次电子分辨率:0.8 nm@15kV, 1.2nm@1kV,1.0nm@1kV(电子束减速模式)  | 
仪器主要用途  | 1.纳米材料形貌像分析、材料微区域EDS能谱成分分析、EBSD电子背散射衍射晶体取向分析,其广泛应用于材料、化学化工、机械、生物、医学等领域。   | 
送样要求  | 1.送检样品必须为干燥固体、表面清洁。  | 
面向学科  | 材料、物理、化学、生物、化工、能源、机械、信电、光仪等  | 
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