仪器型号 | Helios G4 CX |
生产厂家 | 美国 FEI公司 |
投入日期 | 2019年 |
管理人员 | |
电 话 | 0591-22863872 |
安放地址 | 福州大学国家大学科技园阳光科技大厦南110 |
性能参数 | 电子束二次电子分辨率:0.8 nm@15kV, 1.2nm@1kV,1.0nm@1kV(电子束减速模式) |
仪器主要用途 | 1.纳米材料形貌像分析、材料微区域EDS能谱成分分析、EBSD电子背散射衍射晶体取向分析,其广泛应用于材料、化学化工、机械、生物、医学等领域。 |
送样要求 | 1.送检样品必须为干燥固体、表面清洁。 |
面向学科 | 材料、物理、化学、生物、化工、能源、机械、信电、光仪等 |
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