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为助力广大师生深入掌握高精度分析测试技术，拓展科研视野，福建省高校测试中心特邀西班牙Sensofar公司资深应用工程师江旻宪，开展三维共聚焦白光干涉仪技术专题讲座，并提供免费样机试用服务。

讲座题目：三维共聚焦白光干涉仪技术及应用

主要内容：系统解析三维共聚焦白光干涉仪的技术进展与实操应用。该仪器融合共聚焦显微与白光干涉原理，具备纳米级超高分辨率，可全方位获取样品三维形貌信息，量化表征高度、粗糙度及体积等关键参数。

适用领域：仪器广泛应用于半导体封装（晶圆、BGA、引脚）、MicroLED三维尺寸、精密加工结构及腐蚀形貌表征等多学科研究场景。

报告人：江旻宪 工程师

报告时间：2026年3月24日（周二）9：00-10:30

报告地点：福州大学国家大学科技园阳光科技大厦二层南215

报告人简介：

江旻宪，西班牙Sensofar三维共聚焦白光干涉仪资深应用工程师，拥有超过5年工作经验。Sensofar公司作为国际粗糙度评定标准ISO25178制定成员单位之一，该工程师在各类材料粗糙度评定，PCB电路板行业，半导体制程应用技术，微透镜研发应用、薄膜电容器等领域有着资深测量经验，先后在北京大学、南方科技大学、厦门大学、南京航空航天大学、闽都创新实验室等国内各大知名高校及科研单位有过高精尖样品的成功测试案例。

样机免费试用：

试用时间：2026年3月24日（10:30-12:00；14:00-17:30）；

　　　　　3月25日-26日（9:00-17:30）

试用地点：福州大学国家大学科技园阳光科技大学1楼中104（国产科学仪器应用示范中心）

试用须知：欢迎广大师生携样品免费试用。样品尺寸需满足：样品要求长宽不超过114×75mm，高度不超过40mm，且无腐蚀、无挥发、无流动性的非危险品。

诚邀各学院、科研团队及广大师生踊跃参与，借此机会提升科研测试能力，探索技术应用新可能！

供 稿：林双妹

初 审：卢巧梅

复 审：周　强

终 审：陈晓晖