报告题目：层状硫族化合物GaSe氧化行为的电子显微学研究

报告人：张斌 重庆大学分析测试中心副研究员

报告时间：2025年12月31日（星期三）下午2:30-4:30

报告地点：福州大学国家大学科技园阳光科技大厦南215

报告内容：

聚焦GaSe等范德华层状材料的氧化行为研究，介绍如何利用聚焦离子束（FIB）与球差校正电镜等先进综合显微分析技术取得关键发现。

1.通过精准显微分析，系统揭示GaSe等材料在不同温度下的“奇异”氧化行为，阐明其从原子尺度到介观、宏观尺度的表面微结构演变规律，以此展现先进电子显微分析在功能材料显微结构表征与构效关系研究中的重要作用与应用潜力。

2.结合报告人自身实践，分享分析测试中心（显微平台）在提供高质量测试服务、推进技术开发、助力高水平科研工作等方面的经验与思考。

报告人简介：

张斌，副研究员，专注于透射电子显微学、功能材料显微结构与构效关系研究。自2017年加入重庆大学分析测试中心以来，牵头完成了显微分析平台的主要建设工作，目前主要负责聚焦离子束（FIB）、球差校正电镜等先进显微设备的运行维护与技术开发。迄今已合作发表学术论文200余篇，总引用超6000次；开发与推广多项显微技术，授权国家发明专利5项；主持国家自然科学基金青年项目、重庆市教委青年基金、重庆大学仪器设备功能开发项目及企业横向等课题多项。曾获中国分析测试协会科学技术奖（CAIA）一等奖（2020年）、赛默飞中国高校分析测试优秀青年人才二等奖（2021年）、重庆市卓越工程师大赛优胜奖（2023年）， “皖仪科技”卓越工程师提升计划（2025）。