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【分析测试技术讲座之十一】Nano-and Micro-scale Three-dimensional Imaging by (Synchrotron) X-rays and Electrons
发布时间:2025-03-14
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讲座题目:Nano-and Micro-scale Three-dimensional Imaging by (Synchrotron) X-rays and Electrons

报告人:陈波博士

时间:2025318日(周二)14:00

地点:福州大学国家大学科技园阳光科技大厦南215

内容简介:同步辐射X射线及电子显微镜的三维纳微成像技术及应用

报告人简介:

陈波博士,同济大学高等研究院研究员,兼任英国伦敦大学学院(UCL)访问讲师,曾任美国哈佛大学(Harvard University)医学院访问学者;欧洲大型实验系统用户高等研究课程(HERCULES)获批参与者。主要从事基于同步辐射X射线及电子显微镜的三维纳微成像技术的开发和应用研究,使用三维纳微成像技术定量分析各类物质的三维空间结构及其空间化学组分分布,并使用测试所得物质真实三维空间结构进行材料性能模拟。

福州大学福建省高校测试中心

2025314日   


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