生产厂家

美国FEI公司

投入日期

2006

管理人员

张新奇  燕丹

电        话

0591-22863872

安放地址

福州大学国家大学科技园阳光科技大厦南110

性能参数

点分辨率: 0.24nm

信息分辨率: ≤0.15nm

高分辨STEM分辨率: 0.2nm

物镜球差系数Cs: 1.2mm

物镜色差系数Cc: 1.2mm

物镜焦长: 1.7mm

样品最大倾角: ±40°

采用高发射电流Schotty场发射电子枪，拍摄到的图像具有亮度高，稳定性好

TEM、SAD、STEM、EDX频谱成像等可以灵活地有机组合

仪器主要
用途

固体材料微区形貌和结构分析：

形貌像分析；电子衍射图像分析；HRTEM 高分辨像；EDX能谱分析。

送样要求

1、低熔点的材料如锡、铅等会产生相变和蒸镀效应，请勿预约电镜测试。
2、具有毒性、腐蚀性、刺激性、易燃、易爆、放射性、磁性等对人员和仪器有害的样品，请勿预约电镜测试。

3、样品中含有机物、高分子等成分在电子束照射下会分解或释放出气体的会造成镜筒污染，请勿预约电镜测试。

面向学科

材料、物理、化学、生物、化工、能源、机械、信电、光仪等