生产厂家

Netherlands Panalytical

投入日期

2017

管理人员

黄清明 尹华  冯蕊

电   话

0591-22867823

安放地址

福州大学国家大学科技园阳光科技大厦北108

性能参数

2θ 角度范围：-110°-162°

角度重现性：+/-0.0001°

最小可控步长：0.0001°

二维探测器计数矩阵：256×256

像素大小：55μm×55μm

静态扫描范围：6.5°

99%线性范围：1×1010cps

最小背景：≤1cps

整机重现性：±0.003°

分辨率FWHM：0.028°

温度范围：25-1200℃

仪器主要用途

1.物相定性、定量分析，结构测定与精修；

2.晶粒尺寸与晶格畸变分析；

3.介孔有序性与孔径分布分析，纳米颗粒尺寸分布和比表面分析；

4.薄膜面内衍射与物相定性分析，薄膜厚度与物性分析,外延生长膜分析；

5.残余应力分析；

6.微区二维衍射分析；

7. 高温原位分析；

送样要求

粉末，平面块体

面向学科

材料学、无机化学、地质、矿产