尊敬的各位老师：
随着我国材料科学、化学化工、半导体及薄膜、能源、微电子、信息产业及环境领域等高新技术的迅猛发展，表面分析技术在过去的几十年中有了长足进步，在科学研究领域作用日益增长。
为了有效推动表面分析应用技术的发展，深入了解光电子能谱技术的仪器性能特点，充分发挥已购仪器在教学科研生产工作中的作用，福州大学联合赛默飞定于4月23日举办一期“X射线光电子能谱实用技术培训班”。现诚挚邀请您参与此次活动。
活动时间：2024年4月23日（周二）下午14:30—17:00
活动地点：福州大学国家大学科技园阳光科技大厦南215
日程安排
时间 |
报告人 |
单位 |
报告题目 |
主持人 |
14:30-14:40 |
陈晓晖 罗抒 |
福州大学 赛默飞 |
开场致辞 |
葛青亲 |
14:40-15:10 |
袁新丽 |
赛默飞 |
基于赛默飞XPS系统的先进表面分析技术和应用案例分享——ISS，REELS，UPS，IPES |
15:10-15:40 |
孙文武 |
赛默飞 |
赛默飞XPS系统自动化及智能化测试分析功能介绍 |
15:40-15:50 |
茶 歇 |
15:50-16:20 |
安娜莹 |
赛默飞 |
基于XPS-SEM的表面分析联用技术和应用案例分享 |
16:20-17:00 |
史南南 |
赛默飞 |
XPS数据分析技巧及电池材料常见元素拟合分析介绍 |
欢迎感兴趣的老师和同学们参加！
