为积极推动基于扫描电子显微镜的能谱(EDS)、电子背散射衍射技术(EBSD)，以及聚焦离子束(FIB)分析测试技术的发展与应用，建立扫描电子显微镜分析技术的交流平台，加强同行之间的交流与合作，提升技术队伍的理论和技术水平，拟定于2014年9月5日~7日在哈尔滨工业大学举办“全国扫描电镜中能谱、电子背散射衍射技术及聚焦离子束前沿技术与应用高端研修班”。本次会议由高校分析测试中心研究会主办，哈尔滨工业大学测试中心承办。
会议将邀请国内知名专家进行专题讲座，内容主要包括针对上述三项分析测试技术在相关领域的应用实例、最新技术、以及仪器设备维修与维护技巧，并将安排面对面答疑环节。会议热忱欢迎各位同行、学者参加，现将会议有关事宜通知如下：
一、 会议时间
2014年9月5日~7日(9月5日全天报到、注册)
二、 会议地点
哈尔滨工业大学一校区
三、 会议时间安排
2014年9月5日(周五)全天：报到、注册
2014年9月6日(周六)全天：学术交流
2014年9月7日(周日)上午：学术交流
2014年9月7日(周日)下午：技术交流、讨论
四、会议日程
日期 | 时间 | 标题 |
2014/9/5 | 全天 | 报到、注册 |
2014/9/6 上午 | 8:30-9:10 | 开幕式，合影 |
9:10-9:50 | 报告1 |
9:50-10:30 | 报告2 |
10:30-10:50 | 报告3 |
10:50-11:10 | 茶歇 |
11:10-11:30 | 报告4 |
11:30-11:50 | 报告5 |
2014/9/6 中午 | 11:50-13:45 | 午餐 |
2014/9/6 下午 | 14:00-14:40 | 报告6 |
14:40-15:20 | 报告7 |
15:20-15:40 | 报告8 |
15:40-16:00 | 茶歇 |
16:00-16:20 | 报告9 |
16:20-16:40 | 报告10 |
16:40-17:00 | 报告11 |
18:00-20:00 | 晚宴 |
2014/9/7 上午 | 8:30-9:00 | 报告12 |
9:00-9:30 | 报告13 |
9:30-10:00 | 报告14 |
10:00-10:30 | 报告15 |
10:30-10:50 | 茶歇 |
10:50-11:10 | 报告16 |
11:10-11:30 | 报告17 |
11:30-13:30 | 午餐 |
2014/9/7 下午 | 14:00-16:00 | 技术交流 |
16:00后 | 代表离会 |
一、 报名方式
以下方式可任选一种(为方便提前预定房间，请参会者于7月15日之前报名
网站报名：http://www.atctest.org/user_admin/Participants.asp?C_id=4(注册前请先成为会员)
邮件报名：将附件回执表发送至：cam@hit.edu.cn
二、 会务费用
会务费：一般代表1000元/人，学生代表800元/人(含资料费、会场费及会议期间餐费);
住宿：会务组统一安排，费用自理。
三、 会务组联系方式
赵长缨：0451-86414234，13936392204，cam@hit.edu.cn
范国华：0451-86414867，13796626192，ghfan@hit.edu.cn
魏大庆：0451-86417617,13796665111，daqingwei@hit.edu.cn
附件下载：
会议通知
主办：高校分析测试中心研究会
承办：哈尔滨工业大学分析测试中心
2014年3月24日
