各学院、各有关单位：

测试中心将举办“X-射线光电子能谱仪在材料表面成分分析技术应用”交流会，请相关老师准时参加，欢迎有兴趣的老师同学们参加。

讲座题目：PHI材料表面成分分析技术（XPS AES和TOF-SIMS）应用

主讲人：鲁德凤（ULVAC-PHI中国技术支持专家）

会议时间：2017年9月22日（周五）上午9:00

会议地点：阳光科技大厦二层南209（测试中心培训室）

详情见附件：

  附件：XPS在表面成分分析技术应用海报

福州大学测试中心

2017年9月19日