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场发射透射电子显微镜(HRTEM)

信息来源: 暂无 发布日期: 2015-09-28 浏览次数:

 

 

仪器型号

TECNAI G2F20

生产厂家

美国FEI公司

投入日期

2006

管理人员

张新奇  燕丹

       

18094011393,18850735215(上班时间可先电话咨询,预约可编辑短信发送到18094011393,短信内容需写明学生姓名,导师姓名,所在学院或者研究所,样品成分,测试内容:TEM,HRTEM,EDS,Mapping等,需提前多久通知等信息)

安放地址

福州大学国家大学科技园阳光科技大厦南109

性能参数

点分辨率: 0.24nm

信息分辨率0.15nm

高分辨STEM分辨率: 0.2nm

物镜球差系数Cs: 1.2mm

物镜色差系数Cc: 1.2mm

物镜焦长: 1.7mm

样品最大倾角±40°

采用高发射电流Schotty场发射电子枪,拍摄到的图像具有亮度高,稳定性好

TEMSADSTEMEDX频谱成像等可以灵活地有机组合

仪器主要
用途

固体材料微区形貌和结构分析:

形貌像分析;电子衍射图像分析;HRTEM 高分辨像;EDX能谱分析。

送样要求

1、低熔点的材料如锡、铅等会产生相变和蒸镀效应,请勿预约电镜测试。
2、具有毒性、腐蚀性、刺激性、易燃、易爆、放射性、磁性等对人员和仪器有害的样品,请勿预约电镜测试。

3、样品中含有机物、高分子等成分在电子束照射下会分解或释放出气体的会造成镜筒污染,请勿预约电镜测试。

面向学科

材料、物理、化学、生物、化工、能源、机械、信电、光仪等

说明:场发射透射电镜的场发射电子枪的亮度是钨灯丝电子枪的1000倍,真空度也高出1000倍,电子束照射样品所产生的温度很高,为保证场发射枪灯丝具有较长的寿命,以及镜筒和各级透镜的洁净,对检测样品有特殊的要求。 

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