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X射线粉末衍射仪(XRD)

信息来源: 暂无 发布日期: 2014-11-17 浏览次数:

 

仪器型号

X’pert3 and Empyrean

生产厂家

Netherlands Panalytical


投入日期

2017

管理人员

黄清明

   

0591-22867823

安放地址

福州大学国家大学科技园阳光科技大厦北108

性能参数

2θ 角度范围:-110°-162°

角度重现性:+/-0.0001°

最小可控步长:0.0001°

二维探测器计数矩阵:256×256

像素大小:55μm×55μm

静态扫描范围:6.5°

99%线性范围:1×1010cps

最小背景:≤1cps

整机重现性:±0.003°

分辨率FWHM:0.028°

温度范围:25-1200℃


仪器主要用途

1.物相定性、定量分析,结构测定与精修;

2.晶粒尺寸与晶格畸变分析;

3.介孔有序性与孔径分布分析,纳米颗粒尺寸分布和比表面分析;

4.薄膜面内衍射与物相定性分析,薄膜厚度与物性分析,外延生长膜分析;

5.残余应力分析;

6.微区二维衍射分析;

7. 高温原位分析;


送样要求

粉末,平面块体

面向学科

材料学、无机化学、地质、矿产

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